Challenges in Manufacturing Test of Micro and Nano-Systems - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Challenges in Manufacturing Test of Micro and Nano-Systems

Pascal Nouet
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lionel Torres  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406781

Soumis le : jeudi 23 juillet 2009-14:18:08

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00406781 , version 1 (23-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00406781 , version 1

Citer

Pascal Nouet. Challenges in Manufacturing Test of Micro and Nano-Systems. The Innovative Manufacturing Research Conference, Scottish Manufacturing Institute, France. ⟨lirmm-00406781⟩

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