Challenges in Manufacturing Test of Micro and Nano-Systems - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Challenges in Manufacturing Test of Micro and Nano-Systems

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00406837 , version 1 (23-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00406837 , version 1

Citer

Pascal Nouet. Challenges in Manufacturing Test of Micro and Nano-Systems. Workshop on Design for Reliability and Manufacturability in MNT, France. ⟨lirmm-00406837⟩
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