Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
Lionel Torres : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406909
Soumis le : jeudi 23 juillet 2009-16:00:09
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : lirmm-00406909 , version 1
Citer
Pascal Nouet. The future of Embedded Test within the Design for Micro & Nano Manufacture NoE. Workshop on Design for Reliability and Manufacturability in MNT, Apr 2006, Stresa, Lago Maggiore, Italy. ⟨lirmm-00406909⟩
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