Conception de Microsystèmes Monolithiques Testables et Robustes aux Variations de Process - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Access content directly
Conference Papers Year :

Conception de Microsystèmes Monolithiques Testables et Robustes aux Variations de Process

Pascal Nouet
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domains

Micro and nanotechnologies/Microelectronics

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406918

Submitted on : Thursday, July 23, 2009-4:13:06 PM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:52 PM

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Dates and versions

lirmm-00406918 , version 1 (23-07-2009)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00406918 , version 1

Cite

Pascal Nouet. Conception de Microsystèmes Monolithiques Testables et Robustes aux Variations de Process. Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des Systèmes Embarqués Hétérogènes (FETCH 2007), 2007, Grenoble, France. ⟨lirmm-00406918⟩

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