Conception de Microsystèmes Monolithiques Testables et Robustes aux Variations de Process - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Conception de Microsystèmes Monolithiques Testables et Robustes aux Variations de Process

Pascal Nouet
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406918

Soumis le : jeudi 23 juillet 2009-16:13:06

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00406918 , version 1 (23-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00406918 , version 1

Citer

Pascal Nouet. Conception de Microsystèmes Monolithiques Testables et Robustes aux Variations de Process. Ecole d'hiver Francophone sur les Technologies de Conception des Systèmes Embarqués Hétérogènes (FETCH 2007), 2007, Grenoble, France. ⟨lirmm-00406918⟩

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