Power: The New Dimension of Test

Patrick Girard 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
IEEE Workshop on RTL and High Level Testing, Sapporo, Japan. 2009, 〈http://aries3a.cse.kyutech.ac.jp/wrtlt08/〉
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00406964
Contributeur : Lionel Torres <>
Soumis le : jeudi 23 juillet 2009 - 17:21:01
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00406964, version 1

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Citation

Patrick Girard. Power: The New Dimension of Test. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing, Sapporo, Japan. 2009, 〈http://aries3a.cse.kyutech.ac.jp/wrtlt08/〉. 〈lirmm-00406964〉

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