NAND Flash Testing: A Preliminary Study on Actual Defects - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Poster De Conférence Année : 2009

NAND Flash Testing: A Preliminary Study on Actual Defects

Résumé

Embedded flash memories are dominated by the NOR architecture but NAND is becoming more and more adopted due to its high storage capacity. This paper presents a preliminary study on actual defects in NAND array.

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00433765

Soumis le : vendredi 20 novembre 2009-10:42:24

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00433765 , version 1 (20-11-2009)

Identifiants

Citer

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. NAND Flash Testing: A Preliminary Study on Actual Defects. ITC: International Test Conference, Nov 2009, Austin, TX, United States. 2009, ⟨10.1109/TEST.2009.5355898⟩. ⟨lirmm-00433765⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER EC_LYON_STRICT
106 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More