Test des Mémoires FLASH NAND - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Access content directly
Conference Poster Year : 2009

Test des Mémoires FLASH NAND

Abstract

Les mémoires non-volatiles et plus spécialement les mémoires Flash sont de plus en plus utilisées dans le contexte SoC. Cet article présente une étude préliminaire des mécanismes de défaillances pouvant affecter les mémoires Flash NAND.
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Dates and versions

lirmm-00433770 , version 1 (20-11-2009)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00433770 , version 1

Cite

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Test des Mémoires FLASH NAND. Colloque GDR SoC-SiP, France. 2009. ⟨lirmm-00433770⟩
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