Test des Mémoires FLASH NAND

Résumé : Les mémoires non-volatiles et plus spécialement les mémoires Flash sont de plus en plus utilisées dans le contexte SoC. Cet article présente une étude préliminaire des mécanismes de défaillances pouvant affecter les mémoires Flash NAND.
Type de document :
Poster
Colloque GDR SoC-SiP, France. 2009
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00433770
Contributeur : Arnaud Virazel <>
Soumis le : vendredi 20 novembre 2009 - 10:47:40
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00433770, version 1

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Citation

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Test des Mémoires FLASH NAND. Colloque GDR SoC-SiP, France. 2009. 〈lirmm-00433770〉

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