Test des Mémoires FLASH NAND

Les mémoires non-volatiles et plus spécialement les mémoires Flash sont de plus en plus utilisées dans le contexte SoC. Cet article présente une étude préliminaire des mécanismes de défaillances pouvant affecter les mémoires Flash NAND.

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00433770

Soumis le : vendredi 20 novembre 2009-10:47:40

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Dates et versions

lirmm-00433770 , version 1 (20-11-2009)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00433770 , version 1

Citer

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Test des Mémoires FLASH NAND. Colloque GDR SoC-SiP, France. 2009. ⟨lirmm-00433770⟩

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