Test des Mémoires FLASH NAND - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Conference Poster Year : 2009

Test des Mémoires FLASH NAND

Abstract

Les mémoires non-volatiles et plus spécialement les mémoires Flash sont de plus en plus utilisées dans le contexte SoC. Cet article présente une étude préliminaire des mécanismes de défaillances pouvant affecter les mémoires Flash NAND.

Domains

Micro and nanotechnologies/Microelectronics

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00433770

Submitted on : Friday, November 20, 2009-10:47:40 AM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:52 PM

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Dates and versions

lirmm-00433770 , version 1 (20-11-2009)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00433770 , version 1

Cite

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Test des Mémoires FLASH NAND. Colloque GDR SoC-SiP, France. 2009. ⟨lirmm-00433770⟩

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Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER EC_LYON_STRICT
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