A Multi-Converter DFT Technique for Complex SIP: Concepts and Validation

This paper presents a new technique called “Analog Network of Converters” that allows to test a set of ADCs and DACs embedded in a complex circuit as SiP and SoC. It presents an experimental validation of this new concept that permits to reduce drastically the testing time and requires only a low cost digital ATE.

Mots clés

Mixed-signal testing DFT ADC DAC

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Fichier principal

Spec-Session-comte.pdf (165.59 Ko)

Origine	Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Mariane Comte : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00448863

Soumis le : mercredi 20 janvier 2010-12:05:25

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Archivage à long terme le : vendredi 18 juin 2010-01:09:39

Dates et versions

lirmm-00448863 , version 1 (20-01-2010)

Identifiants

HAL Id : lirmm-00448863 , version 1

Citer

Vincent Kerzérho, Philippe Cauvet, Serge Bernard, Florence Azaïs, Mariane Comte, et al.. A Multi-Converter DFT Technique for Complex SIP: Concepts and Validation. ECCTD: European Conference on Circuit Theory and Design, Aug 2009, Antalya, Turkey. pp.747-750. ⟨lirmm-00448863⟩

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