Analysis of Power Consumption and Transition Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Analysis of Power Consumption and Transition Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00475734

Soumis le : jeudi 22 avril 2010-17:19:32

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:53

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00475734 , version 1 (22-04-2010)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00475734 , version 1

Citer

Wu Fangmei, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Analysis of Power Consumption and Transition Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes. DDECS'10: 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2010, Vienna, Austria. pp.376-381. ⟨lirmm-00475734⟩

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