Analysis of Power Consumption and Transition Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes

Type de document :
Communication dans un congrès
DDECS'10: 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2010, Vienna, Austria. pp.376-381, 2010
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 22 avril 2010 - 17:19:32
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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  • HAL Id : lirmm-00475734, version 1

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Wu Fangmei, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Analysis of Power Consumption and Transition Fault Coverage for LOS and LOC Testing Schemes. DDECS'10: 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2010, Vienna, Austria. pp.376-381, 2010. 〈lirmm-00475734〉

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