Poster De Conférence
Année : 2010
Martine Peridier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00537857
Soumis le : vendredi 19 novembre 2010-15:29:29
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:53
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : lirmm-00537857 , version 1
Citer
Alberto Bosio, Giorgio Di Natale. Parallel Test of Identical Cores Using Test Elevators in 3D Circuits. 3D-Test: Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits, Nov 2010, Austin, TX, United States. IEEE, 1st International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits, 2010. ⟨lirmm-00537857⟩
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