Is Test Power Reduction Through X-Filling Good Enough? - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2010

Is Test Power Reduction Through X-Filling Good Enough?

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00537926

Soumis le : vendredi 19 novembre 2010-16:42:45

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:53

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00537926 , version 1 (19-11-2010)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00537926 , version 1

Citer

Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Is Test Power Reduction Through X-Filling Good Enough?. ITC'2010: International Test Conference, Nov 2010, Austin, Texas, United States. 2010. ⟨lirmm-00537926⟩

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