Is Test Power Reduction Through X-Filling Good Enough?

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ITC'2010: International Test Conference, Nov 2010, Austin, Texas, United States. 2010
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 19 novembre 2010 - 16:42:45
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-00537926, version 1

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Fangmei Wu, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Is Test Power Reduction Through X-Filling Good Enough?. ITC'2010: International Test Conference, Nov 2010, Austin, Texas, United States. 2010. 〈lirmm-00537926〉

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