A Comprehensive System-on-Chip Logic Diagnosis

Type de document :
Communication dans un congrès
ATS: Asian Test Symposium, 2010, Shanghai, China. 19th IEEE Asian Test Symposium, pp.237-242, 2010
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : jeudi 9 décembre 2010 - 16:29:01
Dernière modification le : vendredi 2 mars 2018 - 19:36:02

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00545131, version 1

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Citation

Youssef Benabboud, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. A Comprehensive System-on-Chip Logic Diagnosis. ATS: Asian Test Symposium, 2010, Shanghai, China. 19th IEEE Asian Test Symposium, pp.237-242, 2010. 〈lirmm-00545131〉

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