Setting Test Conditions for Detecting Faults Induced by Random Dopant Fluctuation in SRAM Core-Cells

Type de document :
Communication dans un congrès
VARI: Workshop on CMOS Variability, 2010, Montpellier, France. 2010
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553626
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : vendredi 7 janvier 2011 - 16:41:34
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553626, version 1

Collections

Citation

Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Setting Test Conditions for Detecting Faults Induced by Random Dopant Fluctuation in SRAM Core-Cells. VARI: Workshop on CMOS Variability, 2010, Montpellier, France. 2010. 〈lirmm-00553626〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

56