Setting Test Conditions for Detecting Faults Induced by Random Dopant Fluctuation in SRAM Core-Cells - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Setting Test Conditions for Detecting Faults Induced by Random Dopant Fluctuation in SRAM Core-Cells

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553626

Soumis le : vendredi 7 janvier 2011-16:41:34

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00553626 , version 1 (07-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553626 , version 1

Citer

Renan Alves Fonseca, Luigi Dilillo, Alberto Bosio, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, et al.. Setting Test Conditions for Detecting Faults Induced by Random Dopant Fluctuation in SRAM Core-Cells. VARI: Workshop on CMOS Variability, 2010, Montpellier, France. ⟨lirmm-00553626⟩

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