Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Access content directly
Conference Papers Year : 2010
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Dates and versions

lirmm-00553935 , version 1 (10-01-2011)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00553935 , version 1

Cite

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories. JNRDM'10 : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Montpellier, France. ⟨lirmm-00553935⟩
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