Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories

Résumé : N/A
Type de document :
Communication dans un congrès
JNRDM'10 : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Montpellier, France. 2010
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553935
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 10 janvier 2011 - 11:34:34
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553935, version 1

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Citation

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories. JNRDM'10 : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Montpellier, France. 2010. 〈lirmm-00553935〉

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