Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories

Résumé

N/A

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553935

Soumis le : lundi 10 janvier 2011-11:34:34

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00553935 , version 1 (10-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553935 , version 1

Citer

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories. JNRDM'10 : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Montpellier, France. ⟨lirmm-00553935⟩

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