Analysis and Fault Modeling of Actual Resistive Defects in Flash Memories
Résumé
N/A
Martine Peridier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553935
Soumis le : lundi 10 janvier 2011-11:34:34
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54