Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash

Résumé

N/A

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553947

Soumis le : lundi 10 janvier 2011-11:48:30

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00553947 , version 1 (10-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553947 , version 1

Citer

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash. GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France. ⟨lirmm-00553947⟩

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