Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash

Résumé : N/A
Type de document :
Communication dans un congrès
GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France. 2010
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553947
Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : lundi 10 janvier 2011 - 11:48:30
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00553947, version 1

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Citation

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash. GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France. 2010. 〈lirmm-00553947〉

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