Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash

Résumé : N/A
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553947
Contributor : Martine Peridier <>
Submitted on : Monday, January 10, 2011 - 11:48:30 AM
Last modification on : Wednesday, August 28, 2019 - 3:46:02 PM

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00553947, version 1

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Citation

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash. GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France. ⟨lirmm-00553947⟩

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