Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Access content directly
Conference Papers Year : 2010

Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash

Abstract

N/A
No file

Dates and versions

lirmm-00553947 , version 1 (10-01-2011)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00553947 , version 1

Cite

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash. GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France. ⟨lirmm-00553947⟩
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