Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Conference Papers Year : 2010

Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash

Abstract

N/A

Domains

Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Martine Peridier  : Connect in order to contact the contributor

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00553947

Submitted on : Monday, January 10, 2011-11:48:30 AM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:54 PM

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Dates and versions

lirmm-00553947 , version 1 (10-01-2011)

Identifiers

  • HAL Id : lirmm-00553947 , version 1

Cite

Pierre-Didier Mauroux, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, et al.. Analyse et modélisation des défauts résistifs affectant les mémoires Flash. GDR SOC-SIP'10 : Colloque GDR SoC-SiP, Cergy, France. ⟨lirmm-00553947⟩

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