Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Martine Peridier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00566847
Soumis le : jeudi 17 février 2011-11:21:10
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : lirmm-00566847 , version 1
Citer
Paolo Rech, Jean-Marc J.-M. Galliere, Patrick Girard, Frédéric Wrobel, Frédéric Saigné, et al.. Impact of Resistive-Open Defects on SRAM sensitivity to Soft Errors. RADECS: European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2010, Langenfeld, Austria. ⟨lirmm-00566847⟩
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