Influence of Parasitic Memory Effect on Single-Cell Faults in SRAMs - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Poster De Conférence Année : 2011

Influence of Parasitic Memory Effect on Single-Cell Faults in SRAMs

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Martine Peridier  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00591995

Soumis le : mardi 10 mai 2011-16:43:44

Dernière modification le : mardi 26 mars 2024-17:44:13

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00591995 , version 1 (10-05-2011)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00591995 , version 1

Citer

Sandra Irobi, Zaid Al-Ars, Said Hamdioui, Michel Renovell. Influence of Parasitic Memory Effect on Single-Cell Faults in SRAMs. DDECS'11: 14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits ans Systems, Germany. pp.159-162, 2011. ⟨lirmm-00591995⟩

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