Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
Martine Peridier : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679494
Soumis le : jeudi 15 mars 2012-17:11:34
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:55
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : lirmm-00679494 , version 1
Citer
Arnaud Virazel. Impact of Technology Scaling on Defects and Parameter Deviations in Embedded SRAMs. NVM'11: Leading-Edge Embedded NVM Workshop, Gardane, France. ⟨lirmm-00679494⟩
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