HAL TEI export of lirmm-00805275CCSDCC0 1.0 - Universal
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Characteristics of the Transient Currents Induced by Atmospheric Neutrons on a 40nm Electrode of an NMOS TransistorFrédéricWrobel0d44b635da46944e0abf02e8d2683544ies.univ-montp2.frfrederic-wrobel1104417659-11044https://orcid.org/0000-0002-2437-1223https://www.idref.fr/069697027LuigiDilillo91b6da8421e1a299e00bf5311da76a1dlirmm.frluigi-dilillo17247017660-172470https://www.idref.fr/18891885Xhttps://orcid.org/0000-0002-1295-2688AntoineTouboulcda35cfc3007d45be64fcf0ff8b02f8aies.univ-montp2.frantoinetouboul2094622993-20946https://orcid.org/0000-0002-2714-849Xhttps://www.idref.fr/074257323Jean-RochVaillé2fe1370dd49015f90a3153bbbcb42222umontpellier.frjean-roch-vaille1929712236-19297https://orcid.org/0000-0003-1367-0225https://www.idref.fr/079304702FrédéricSaigné2f96f969f939d93b1344a5ac72743dcfumontpellier.frfrederic-saigne1953437691-19534https://www.idref.fr/110480821LuigiDilillo91b6da8421e1a299e00bf5311da76a1dlirmm.fr2013-03-27 15:05:0420122023-03-24 14:52:562013-04-16 14:42:232012-07-16contributorLuigiDilillo91b6da8421e1a299e00bf5311da76a1dlirmm.frCCSDlirmm-00805275https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00805275wrobel:lirmm-00805275<i>NSREC: Nuclear and Space Radiation Effects Conference</i>, Jul 2012, Miami, Florida, United States. pp.1-4NSREC: Nuclear and Space Radiation Effects Conference, Jul 2012, Miami, Florida, United States. pp.1-4CNRS - Centre national de la recherche scientifiqueInstitut d'Electronique et des SystèmesSysMicLaboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de MontpellierMICDépartement MicroélectroniqueMathématiques, Informatique, Physique et SystèmesUniversité de MontpellierUniversité de Montpellier (2015-2021)TEST3-HALCNRSInternationalNoNoYesYesCharacteristics of the Transient Currents Induced by Atmospheric Neutrons on a 40nm Electrode of an NMOS TransistorFrédéricWrobel0d44b635da46944e0abf02e8d2683544ies.univ-montp2.frfrederic-wrobel1104417659-11044https://orcid.org/0000-0002-2437-1223https://www.idref.fr/069697027LuigiDilillo91b6da8421e1a299e00bf5311da76a1dlirmm.frluigi-dilillo17247017660-172470https://www.idref.fr/18891885Xhttps://orcid.org/0000-0002-1295-2688AntoineTouboulcda35cfc3007d45be64fcf0ff8b02f8aies.univ-montp2.frantoinetouboul2094622993-20946https://orcid.org/0000-0002-2714-849Xhttps://www.idref.fr/074257323Jean-RochVaillé2fe1370dd49015f90a3153bbbcb42222umontpellier.frjean-roch-vaille1929712236-19297https://orcid.org/0000-0003-1367-0225https://www.idref.fr/079304702FrédéricSaigné2f96f969f939d93b1344a5ac72743dcfumontpellier.frfrederic-saigne1953437691-19534https://www.idref.fr/110480821NSREC: Nuclear and Space Radiation Effects Conference2012-07-162012-07-20Miami, FloridaUnited StatesIEEE1-42012http://www.nsrec.com/EnglishSoft ErrorsNeutronsMC-ORACLESRAMEngineering Sciences [physics]/ElectronicsConference papersConference papersConference papers
We simulate atmospheric neutron-induced transient current on a 45-nm technology electrode. We propose an empirical law expressing the probability of obtaining a given transient with a given collected charge and a given pulse width.
0000000403903782200711883Rhttps://ror.org/0431hh004Institut d’Electronique et des SystèmesIES2007-01-012021-12-31860, rue Saint Priest, Bâtiment 5 - CC 05001 -34095 Montpellier Cedex 5http://www.ies.univ-montp2.frConception et Test de Systèmes MICroélectroniquesSysMIChttp://www.lirmm.fr/recherche/equipes/sysmicRadiations et composantsRADIAC2007-01-012021-12-310000000120970141https://ror.org/051escj72Université de MontpellierUM2021-12-31163 rue Auguste Broussonnet - 34090 Montpellierhttp://www.umontpellier.fr/02636817X0000000122597504https://ror.org/02feahw73Centre National de la Recherche ScientifiqueCNRS1939-10-19https://www.cnrs.fr/1395908270000000405990488199111950Hhttps://ror.org/013yean28Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de MontpellierLIRMM1995-01-012021-12-31161 rue Ada - 34095 Montpellierhttps://www.lirmm.fr