Defect Localization Through an Effect-Cause based Intra-Cell Diagnosis - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Defect Localization Through an Effect-Cause based Intra-Cell Diagnosis

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00806841

Soumis le : mardi 2 avril 2013-14:49:34

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:57

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00806841 , version 1 (02-04-2013)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00806841 , version 1

Citer

Zhenzhou Sun, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial, et al.. Defect Localization Through an Effect-Cause based Intra-Cell Diagnosis. Colloque GDR SoC-SiP, 2012, Paris, France. ⟨lirmm-00806841⟩

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