Defect Localization Through an Effect-Cause based Intra-Cell Diagnosis

Zhenzhou Sun 1 Alberto Bosio 1 Luigi Dilillo 1 Patrick Girard 1 Aida Todri 1 Arnaud Virazel 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
Colloque GDR SoC-SiP, 2012, Paris, France. 2012
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00806841
Contributeur : Arnaud Virazel <>
Soumis le : mardi 2 avril 2013 - 14:49:34
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00806841, version 1

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Citation

Zhenzhou Sun, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri, et al.. Defect Localization Through an Effect-Cause based Intra-Cell Diagnosis. Colloque GDR SoC-SiP, 2012, Paris, France. 2012. 〈lirmm-00806841〉

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