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 A Layout-Aware Pattern Grading Procedure for Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Patrick Girard 64eced688a71c917544572f77f24aa3d lirmm.fr patrick-girard-lirmm 740458 52018-740458 https://orcid.org/0000-0003-0722-8772 Mohammad Tehranipoor 407750-0 Junxia Ma 4e58df4eed98169fb0632435f460a5af gmail.com 940567 453766-940567 Patrick Girard fdc34816a64e7a3d868e35975591681b lirmm.fr 2013-04-22 15:22:54 2012-04 2026-02-12 03:25:38 2013-04-30 11:19:15 2012-04 contributor Patrick Girard fdc34816a64e7a3d868e35975591681b lirmm.fr CCSD lirmm-00816589 https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00816589 girard:lirmm-00816589 <i>Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications</i>, 2012, 28 (2), pp.201-214. <a target="_blank" href="https://dx.doi.org/10.1007/s10836-011-5268-x">&#x27E8;10.1007/s10836-011-5268-x&#x27E9;</a> Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2012, 28 (2), pp.201-214. &#x27E8;10.1007/s10836-011-5268-x&#x27E9; CNRS - Centre national de la recherche scientifique SysMic Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier MIC Département Microélectronique Mathématiques, Informatique, Physique et Systèmes Université de Montpellier Université de Montpellier (2015-2021) International No Yes A Layout-Aware Pattern Grading Procedure for Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk Patrick Girard 64eced688a71c917544572f77f24aa3d lirmm.fr patrick-girard-lirmm 740458 52018-740458 https://orcid.org/0000-0003-0722-8772 Mohammad Tehranipoor 407750-0 Junxia Ma 4e58df4eed98169fb0632435f460a5af gmail.com 940567 453766-940567 15396 0923-8174 1573-0727 Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications Springer Springer Verlag 28 2 201-214 2012-04 10.1007/s10836-011-5268-x English Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics Journal articles Journal articles Journal articles Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques SysMIC
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