Fault-Effect Propagation Based Intra-cell Scan Chain Diagnosis - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Poster De Conférence Année : 2013

Fault-Effect Propagation Based Intra-cell Scan Chain Diagnosis

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Arnaud Virazel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00839113

Soumis le : jeudi 27 juin 2013-11:13:53

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:57

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00839113 , version 1 (27-06-2013)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00839113 , version 1

Citer

Zhenzhou Sun, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial, et al.. Fault-Effect Propagation Based Intra-cell Scan Chain Diagnosis. Colloque GDR SoC-SiP, Jun 2013, Lyon, France. 2013. ⟨lirmm-00839113⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER EC_LYON_STRICT
139 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More