Sensitivity to fault laser injection: a comparison between 28nm bulk and FD-SOI technology

Type de document :
Communication dans un congrès
TRUDEVICE: Secure Hardware and Security Evaluation, Sep 2015, Saint-Malo, France. 2015
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01234094
Contributeur : Giorgio Di Natale <>
Soumis le : jeudi 26 novembre 2015 - 11:14:15
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01234094, version 1

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Citation

Stephan De Castro, Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Sensitivity to fault laser injection: a comparison between 28nm bulk and FD-SOI technology. TRUDEVICE: Secure Hardware and Security Evaluation, Sep 2015, Saint-Malo, France. 2015. 〈lirmm-01234094〉

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