Sensitivity to fault laser injection: a comparison between 28nm bulk and FD-SOI technology - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Documentation
Français (FR)

Anglais (EN)

Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Sensitivity to fault laser injection: a comparison between 28nm bulk and FD-SOI technology

(1, 2) , (3) , (3) , (3)

1
2
3

Stephan de Castro

Fonction : Auteur

Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Département Systèmes et Architectures Sécurisés

Giorgio Di Natale

Fonction : Auteur
PersonId : 9897
IdHAL : giorgio-di-natale
ORCID : 0000-0001-8063-5388
IdRef : 165791144

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Marie-Lise Flottes

Fonction : Auteur
PersonId : 3580
IdHAL : marie-lise-flottes
ORCID : 0000-0002-7231-3976
IdRef : 142992321

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Bruno Rouzeyre

Fonction : Auteur
PersonId : 22024
IdHAL : bruno-rouzeyre
IdRef : 07124705X

Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Giorgio Di Natale : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01234094

Soumis le : jeudi 26 novembre 2015-11:14:15

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:01

Dates et versions

lirmm-01234094 , version 1 (26-11-2015)

Identifiants

HAL Id : lirmm-01234094 , version 1

Citer

Stephan de Castro, Giorgio Di Natale, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Sensitivity to fault laser injection: a comparison between 28nm bulk and FD-SOI technology. TRUDEVICE Workshop, Sep 2015, Saint-Malo, France. ⟨lirmm-01234094⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

INSTITUT-TELECOM CNRS SYSMIC LIRMM LIRMM_MIC MIC MIPS UNIV-MONTPELLIER

111 Consultations

0 Téléchargements

Partager