Efficient Dynamic Test Methods for COTS SRAMs Under Heavy Ion Irradiation - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Documentation
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Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Efficient Dynamic Test Methods for COTS SRAMs Under Heavy Ion Irradiation

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Georgios Tsiligiannis

Fonction : Auteur
PersonId : 938500
ORCID : 0000-0002-8976-559X

Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems

Luigi Dilillo

Fonction : Auteur
PersonId : 172470
IdHAL : luigi-dilillo
ORCID : 0000-0002-1295-2688
IdRef : 18891885X

Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems

Viyas Gupta

Fonction : Auteur
PersonId : 1231992

Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems

Alberto Bosio

Fonction : Auteur
PersonId : 172965
IdHAL : alberto-bosio
ORCID : 0000-0001-6116-7339
IdRef : 174383592

Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems

Patrick Girard

Fonction : Auteur
PersonId : 740458
IdHAL : patrick-girard-lirmm
ORCID : 0000-0003-0722-8772

Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems

Aida Todri-Sanial

Fonction : Auteur
PersonId : 6348
IdHAL : todri
ORCID : 0000-0001-8573-2910
IdRef : 235598879

Smart Integrated Electronic Systems

Arnaud Virazel

Fonction : Auteur
PersonId : 18065
IdHAL : arnaud-virazel
ORCID : 0000-0001-7398-7107
IdRef : 068454724

Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems

Helmut Puchner

Fonction : Auteur
PersonId : 775790
ORCID : 0000-0002-1856-1071

Alexandre Louis Bosser

Fonction : Auteur
PersonId : 1185875
ORCID : 0000-0002-0764-9051

Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems

Arto Javanainen

Fonction : Auteur

Ari Virtanen

Fonction : Auteur

Frédéric Wrobel

Fonction : Auteur
PersonId : 11044
IdHAL : frederic-wrobel
ORCID : 0000-0002-2437-1223
IdRef : 069697027

Institut d’Electronique et des Systèmes

Radiations et composants

Laurent Dusseau

Fonction : Auteur
PersonId : 21031
IdHAL : laurent-dusseau
IdRef : 107779064

Centre Spatial Universitaire de Montpellier-Nîmes

Institut d’Electronique et des Systèmes

Radiations et composants

Frédéric Saigné

Fonction : Auteur
PersonId : 19534
IdHAL : frederic-saigne
IdRef : 110480821

Institut d’Electronique et des Systèmes

Radiations et composants

Résumé

We present novel methods for the dynamic mode radiation testing of SRAMs, based on different address accessing schemes: Fast Row, Fast Column and Pseudorandom. These methods are evaluated by heavy ion irradiation of two SRAMs.

Mots clés

COTS SEU SRAM Heavy ions

Domaines

Electronique Physique [physics]

Luigi Dilillo : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01237660

Soumis le : jeudi 3 décembre 2015-15:46:26

Dernière modification le : lundi 16 octobre 2023-16:51:35

Dates et versions

lirmm-01237660 , version 1 (03-12-2015)

Identifiants

HAL Id : lirmm-01237660 , version 1

Citer

Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Viyas Gupta, Alberto Bosio, Patrick Girard, et al.. Efficient Dynamic Test Methods for COTS SRAMs Under Heavy Ion Irradiation. NSREC: Nuclear and Space Radiation Effects Conference, Jul 2014, Paris, France. ⟨lirmm-01237660⟩

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