Efficient Dynamic Test Methods for COTS SRAMs Under Heavy Ion Irradiation - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Efficient Dynamic Test Methods for COTS SRAMs Under Heavy Ion Irradiation

Georgios Tsiligiannis
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
Luigi Dilillo
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
CV
Viyas Gupta
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1231992
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
Alberto Bosio
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
Patrick Girard
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
CV
Aida Todri-Sanial
Smart Integrated Electronic Systems
CV
Arnaud Virazel
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
CV
Helmut Puchner
Alexandre Louis Bosser
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
Arto Javanainen
  • Fonction : Auteur
Ari Virtanen
  • Fonction : Auteur
Frédéric Wrobel
Institut d’Electronique et des Systèmes
Radiations et composants
CV
Laurent Dusseau
Centre Spatial Universitaire de Montpellier-Nîmes
Institut d’Electronique et des Systèmes
Radiations et composants
Frédéric Saigné
Institut d’Electronique et des Systèmes
Radiations et composants

Résumé

We present novel methods for the dynamic mode radiation testing of SRAMs, based on different address accessing schemes: Fast Row, Fast Column and Pseudorandom. These methods are evaluated by heavy ion irradiation of two SRAMs.

Mots clés

COTS SEU SRAM Heavy ions

Domaines

Electronique Physique [physics]

Luigi Dilillo  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01237660

Soumis le : jeudi 3 décembre 2015-15:46:26

Dernière modification le : lundi 16 octobre 2023-16:51:35

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-01237660 , version 1 (03-12-2015)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01237660 , version 1

Citer

Georgios Tsiligiannis, Luigi Dilillo, Viyas Gupta, Alberto Bosio, Patrick Girard, et al.. Efficient Dynamic Test Methods for COTS SRAMs Under Heavy Ion Irradiation. NSREC: Nuclear and Space Radiation Effects Conference, Jul 2014, Paris, France. ⟨lirmm-01237660⟩

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