Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI 2015) - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Ouvrages Année : 2015

Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI 2015)

Aida Todri-Sanial
Smart Integrated Electronic Systems
CV
Giorgio Di Natale
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
CV
Patrick Girard
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
CV
Marc Belleville
  • Fonction : Directeur scientifique
  • PersonId : 846078
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
Saraju P. Mohanty
  • Fonction : Directeur scientifique
University of North Texas
Mariane Comte
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
CV

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Caroline Lebrun  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01433587

Soumis le : jeudi 12 janvier 2017-17:27:13

Dernière modification le : mardi 3 septembre 2024-11:16:05

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-01433587 , version 1 (12-01-2017)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01433587 , version 1

Citer

Aida Todri-Sanial, Giorgio Di Natale, Patrick Girard, Marc Belleville, Saraju P. Mohanty, et al. (Dir.). Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI 2015). , 2015, 978-1-4799-8718-4. ⟨lirmm-01433587⟩

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