Small Delay Defect Investigation in Critical Path Delay with Multiple TSVs

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EMicro-NE, Oct 2015, Campina Grande, Brazil. X Escola de Microeletrônica do Nordeste, 2015, 〈https://sites.google.com/site/emicrone2015/〉
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Contributeur : Caroline Lebrun <>
Soumis le : lundi 6 février 2017 - 10:41:35
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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  • HAL Id : lirmm-01456983, version 1

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Carolina Metzler, Aida Todri-Sanial, Patrick Girard. Small Delay Defect Investigation in Critical Path Delay with Multiple TSVs. EMicro-NE, Oct 2015, Campina Grande, Brazil. X Escola de Microeletrônica do Nordeste, 2015, 〈https://sites.google.com/site/emicrone2015/〉. 〈lirmm-01456983〉

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