Small Delay Defect Investigation in Critical Path Delay with Multiple TSVs - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2015

Small Delay Defect Investigation in Critical Path Delay with Multiple TSVs

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Caroline Lebrun  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01456983

Soumis le : lundi 6 février 2017-10:41:35

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:03

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-01456983 , version 1 (06-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-01456983 , version 1

Citer

Carolina Momo Metzler, Aida Todri-Sanial, Patrick Girard. Small Delay Defect Investigation in Critical Path Delay with Multiple TSVs. EMicro-NE, Oct 2015, Campina Grande, Brazil. , X Escola de Microeletrônica do Nordeste, 2015. ⟨lirmm-01456983⟩

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