Assist Circuits for SRAM Testing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Brevet Année : 2014

Assist Circuits for SRAM Testing

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-02089903

Soumis le : jeudi 4 avril 2019-11:45:47

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:10

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-02089903 , version 1 (04-04-2019)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-02089903 , version 1

Citer

Nabil Badereddine, Leonardo B. Zordan, Patrick Girard, Alberto Bosio. Assist Circuits for SRAM Testing. France, Patent n° : US9418759. 2014. ⟨lirmm-02089903⟩

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