The Use of Ensemble Learning in Indirect Testing of Analog and RF Integrated Circuits - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

The Use of Ensemble Learning in Indirect Testing of Analog and RF Integrated Circuits

Hassan El Badawi
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
CV
Florence Azaïs
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
CV
Serge Bernard
Smart Integrated Electronic Systems
CV
Mariane Comte
Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems
CV
Vincent Kerzérho
Smart Integrated Electronic Systems
François Lefèvre
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1081074
NXP Semiconductors

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Florence Azais  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-02375866

Soumis le : vendredi 22 novembre 2019-11:29:35

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:13

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-02375866 , version 1 (22-11-2019)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-02375866 , version 1

Citer

Hassan El Badawi, Florence Azaïs, Serge Bernard, Mariane Comte, Vincent Kerzérho, et al.. The Use of Ensemble Learning in Indirect Testing of Analog and RF Integrated Circuits. SETS 2019 - South European Test Seminar, 2019, Pitztal, Austria. ⟨lirmm-02375866⟩

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