The Use of Ensemble Learning in Indirect Testing of Analog and RF Integrated Circuits - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

The Use of Ensemble Learning in Indirect Testing of Analog and RF Integrated Circuits

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Florence Azais  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-02375866

Soumis le : vendredi 22 novembre 2019-11:29:35

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:13

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-02375866 , version 1 (22-11-2019)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-02375866 , version 1

Citer

Hassan El Badawi, Florence Azaïs, Serge Bernard, Mariane Comte, Vincent Kerzérho, et al.. The Use of Ensemble Learning in Indirect Testing of Analog and RF Integrated Circuits. SETS 2019 - South European Test Seminar, 2019, Pitztal, Austria. ⟨lirmm-02375866⟩

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