SEU Mechanisms in Spintronic Devices: Critical Parameters and Basic Effects - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2020

SEU Mechanisms in Spintronic Devices: Critical Parameters and Basic Effects

Résumé

The paper investigates radiation-induced switching mechanisms, temperature effects, breakdown voltage, sensitive volume and critical charge definitions for Spin-Transfer Torque Magnetic Tunnel Junction.

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lionel Torres  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-02957096

Soumis le : dimanche 4 octobre 2020-17:52:57

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:09:31

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-02957096 , version 1 (04-10-2020)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-02957096 , version 1

Citer

Odilia Coi, Nomena Andrianjohany, Gregory Di Pendina, Lionel Torres, David Dangla, et al.. SEU Mechanisms in Spintronic Devices: Critical Parameters and Basic Effects. RADECS 2020 - 20th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, Oct 2020, Online, France. ⟨lirmm-02957096⟩

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