Ce papier présente une analyse d'une technique de protection, le Lockstep, appliquée à un système s'exécutant sur un composant complexe, et cela afin d'assurer la tolérance aux fautes de ce système lorqu'il est utilisé dans des environnements radiatifs sévères. En effet, les systèmes électroniques sont sujets à des défaillances en raison du nombre élevé d'erreurs pouvant survenir de manière aléatoire dans ces environnements, soulignant ainsi la nécessité de mettre en place une solution de protection efficace. Ce papier décrit le processus de déploiement du Lockstep et examine son impact sur une cible FPGA. Cette technique est initialement implémentée sur FPGA en vue d'une adaptation sur SoC-FPGA.