Etude Statistique de l'Energie dans les Circuits Intégrés CMOS-FDSOI : Caractérisation et Optimisation

Rida Kheirallah 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Résumé : Pour les noeuds technologiques avancés, la consommation statique des circuits intégrés est devenue un facteur essentiel de l'industrie microélectronique. L'efficacité énergétique des circuits est mesurée en fonction de leur performance et en fonction de leur consommation statique. Face à l'augmentation de la variabilité des paramètres physiques et environnementaux, la technologie silicium sur isolant complètement désertée (FD-SOI : Fully-Depleted Silicon-On-Insulator) permet de prolonger la loi de Moore dans le domaine nanométrique. Dans ce mémoire une étude statistique de l'énergie des circuits intégrés CMOS-FDSOI est réalisée. Des bibliothèques statistiques qui caractérisent le délai et la puissance statique des transistors CMOS-FDSOI sont mises en place. Compte tenu des avantages liés à la technologie FDSOI, des approches statistiques basées sur les bibliothèques sont appliquées pour estimer le délai et la puissance statique. En conservant l'exactitude de l'estimation, ces approches apportent un gain important en temps CPU. Suite à l'estimation du délai et de la puissance statique, les variations énergétiques des transistors CMOS-FDSOI sont étudiées en fonction de la tension d'alimentation et en fonction de la tension de polarisation. Ainsi, grâce à la détermination d'un compromis Délai-Puissance Statique efficace et l'élaboration d'un flow d'optimisation statistique, l'énergie statique d'un circuit a pu être optimisée.
Type de document :
Thèse
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Montpellier 2016. Français
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Contributeur : Caroline Lebrun <>
Soumis le : mercredi 8 février 2017 - 18:24:35
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:25
Document(s) archivé(s) le : mardi 9 mai 2017 - 13:56:56

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Rida Kheirallah. Etude Statistique de l'Energie dans les Circuits Intégrés CMOS-FDSOI : Caractérisation et Optimisation. Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Montpellier 2016. Français. 〈tel-01462300〉

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