index - Smart Integrated Electronic Systems Accéder directement au contenu

L’équipe SMARTIES est une équipe d’une trentaine de chercheurs dont les activités sont centrées sur les méthodes de conception et la modélisation de dispositifs, systèmes et circuits intégrés conçus en technologie CMOS, à l’aide de technologies émergentes (CNT, CNTFET, MRAM, …), selon des approches de conception alternatives (3D, adiabatique, etc.).

L’ensemble de ces travaux visent à développer des systèmes et circuits intégrés offrant de hautes performances et une consommation d’énergie réduite, mais également des circuits adaptatifs à leur état de fonctionnement et à l’environnement de sorte à garantir la fonctionnalité, la sureté et la sécurité des informations traitées ou bien satisfaire des contraintes applicatives spécifiques.

Dans cette démarche SmartIES se caractérise par sa volonté de conduire les approches théoriques jusqu’à des démonstrateurs expérimentaux ou des bancs de mesure. Au cours des cinq dernières années, on peut noter de nombreux travaux ayant contribué à des réalisations matérielles (ASIC, plateformes expérimentales dédiées, prototypes matériels et/ou logiciels) et conduit à des transferts technologiques.

Open Access Files

64 %

Nombre de Fichiers déposés

247

Nombre de Notices déposées

148

Politique des éditeurs en matière de dépôt dans une archive ouverte

Cartographie des collaborations

Tags

Ensemble methods RF test Calibration Analog/RF integrated circuits Hardware security Digital signal processing ZigBee Sensors RSA Self-heating Image Edge Detection Integrated circuits Countermeasures Energy Reliability Neuromorphic computing Carbon nanotube Automatic test pattern generation RF integrated circuits Bioimpedance Delays Bio-logging Integrated circuit modeling Magnetic tunneling Digital ATE Mutual information Quantum computing Test confidence Circuit faults Electronic tagging 3D integration Electrothermal simulation Noise measurement NP-hard problems Integrated circuit testing Insulator-Metal-Transition IMT Technology computer-aided design TCAD Bioimpedance spectroscopy Fault tolerance Fault attacks Performance Edge AI One bit acquisition Noise Test efficiency OQPSK Self-oscillations Current mirror Phase noise Low-cost measurements Error mitigation Switches Through-silicon vias SRAM Simulation Oscillatory Neural Networks Indirect test Oscillatory neural networks ONN Oscillatory Neural Network 1-bit acquisition Transistors Deep learning Side-channel analysis FDSOI technology Image edge detection Phase shifter Three-dimensional displays Oscillatory neural network Alternate testing Education Circuit simulation Pattern recognition Indirect testing Interconnects Current conveyor Beyond-CMOS devices CMOS analog design EM fault injection Machine-learning algorithms Edge artificial intelligence edge AI MEMS Logic gates Hardware High-current drive Low-power Quantum Process variability Vanadium dioxide Test SEU Evaluation Carbon nanotubes Convective accelerometer Microprocessors Integrated circuit noise Analog signals Qubit Test cost reduction Power demand Computer architecture