Fitting ATE Channels with Scan Chains: A Comparison Between a Test Data Compression Technique and Serial Loading of Scan Chains - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Fitting ATE Channels with Scan Chains: A Comparison Between a Test Data Compression Technique and Serial Loading of Scan Chains

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102704

Soumis le : lundi 2 octobre 2006-15:41:21

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00102704 , version 1 (02-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00102704 , version 1

Citer

Julien Dalmasso, Marie-Lise Flottes, Bruno Rouzeyre. Fitting ATE Channels with Scan Chains: A Comparison Between a Test Data Compression Technique and Serial Loading of Scan Chains. DELTA'06: Third IEEE International Workshop on Electronics DesignTest & Applications, Kuala Lumpur (Malaysia), pp.295-300. ⟨lirmm-00102704⟩

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