On the Testing of the Electronic Conditioning Chain of a CMOS MEMS Based Magnetic Field Sensor - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

On the Testing of the Electronic Conditioning Chain of a CMOS MEMS Based Magnetic Field Sensor

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00102750

Soumis le : lundi 2 octobre 2006-16:05:30

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00102750 , version 1 (02-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00102750 , version 1

Citer

Olivier Leman, Florence Azaïs, Laurent Latorre, Frédérick Mailly, Pascal Nouet. On the Testing of the Electronic Conditioning Chain of a CMOS MEMS Based Magnetic Field Sensor. LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop, Mar 2006, Buenos Aires, Argentina. pp.29-34. ⟨lirmm-00102750⟩

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