On the Testing of the Electronic Conditioning Chain of a CMOS MEMS Based Magnetic Field Sensor

Type de document :
Communication dans un congrès
LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop, Mar 2006, Buenos Aires, Argentina. pp.29-34, 2006
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 2 octobre 2006 - 16:05:30
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

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Olivier Leman, Florence Azaïs, Laurent Latorre, Frédérick Mailly, Pascal Nouet. On the Testing of the Electronic Conditioning Chain of a CMOS MEMS Based Magnetic Field Sensor. LATW'06: 7th IEEE Latin American Test Workshop, Mar 2006, Buenos Aires, Argentina. pp.29-34, 2006. 〈lirmm-00102750〉

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