Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories

Luigi Dilillo 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1 S. Borri M. Hage-Hassan
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories
Type de document :
Article dans une revue
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2005, 21 (5), pp.551-561
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mercredi 11 octobre 2006 - 07:51:23
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 avril 2010 - 19:17:43

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  • HAL Id : lirmm-00105314, version 1

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Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, S. Borri, et al.. Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2005, 21 (5), pp.551-561. 〈lirmm-00105314〉

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