Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing

Patrick Girard; Yannick Bonhomme

Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing

Patrick Girard ¹ Yannick Bonhomme ²

1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques

LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier

Type de document :

Article dans une revue

Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2005, 1 (1), pp.85-95

Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105357
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mercredi 11 octobre 2006 - 07:51:31
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

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