Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing

Patrick Girard 1 Yannick Bonhomme 2
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
2 LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Article dans une revue
Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2005, 1 (1), pp.85-95
Liste complète des métadonnées
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105357
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mercredi 11 octobre 2006 - 07:51:31
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00105357, version 1

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Citation

Patrick Girard, Yannick Bonhomme. Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing. Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2005, 1 (1), pp.85-95. 〈lirmm-00105357〉

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