Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing

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Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2005, 1 (1), pp.85-95
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : mercredi 11 octobre 2006 - 07:51:31
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

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  • HAL Id : lirmm-00105357, version 1

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Patrick Girard, Yannick Bonhomme. Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing. Journal of Low Power Electronics, American Scientific Publishers, 2005, 1 (1), pp.85-95. 〈lirmm-00105357〉

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