Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Low Power Electronics Année : 2005

Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing

Domaines

Informatique [cs]

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00105357

Soumis le : mercredi 11 octobre 2006-07:51:31

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00105357 , version 1 (11-10-2006)

Identifiants

Citer

Patrick Girard, Yannick Bonhomme. Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing. Journal of Low Power Electronics, 2005, 1 (1), pp.85-95. ⟨10.1166/jolpe.2005.004⟩. ⟨lirmm-00105357⟩

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