Electrical Behavior of GOS Faults in Domino Logic

Type de document :
Communication dans un congrès
DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary, IEEE, pp.210-215, 2005
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:44
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

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Citation

Mariane Comte, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara, Michel Renovell. Electrical Behavior of GOS Faults in Domino Logic. DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary, IEEE, pp.210-215, 2005. 〈lirmm-00105991〉

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