Electrical Behavior of GOS Faults in Domino Logic

Type de document :
Communication dans un congrès
DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary, IEEE, pp.210-215, 2005
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : vendredi 13 octobre 2006 - 10:22:44
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

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  • HAL Id : lirmm-00105991, version 1

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Citation

Mariane Comte, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara, Michel Renovell. Electrical Behavior of GOS Faults in Domino Logic. DDECS'05: IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Apr 2005, Sopron, Hungary, IEEE, pp.210-215, 2005. 〈lirmm-00105991〉

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