The Transient Reponse Analysis Method Applied to the Test of Field Programmable Analog Arrays: Feasibility Study

Type de document :
Communication dans un congrès
LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2005, Salvador, Brazil. 6th IEEE Latin American Test Workshop, pp.252-257, 2005
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 16 octobre 2006 - 08:38:42
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19

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Tiago R. Balen, Tiago Jost, Jose Vicente Calvano, Marcelo Lubaszewski, Michel Renovell. The Transient Reponse Analysis Method Applied to the Test of Field Programmable Analog Arrays: Feasibility Study. LATW: Latin American Test Workshop, Mar 2005, Salvador, Brazil. 6th IEEE Latin American Test Workshop, pp.252-257, 2005. 〈lirmm-00106518〉

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