Test Solutions for Dynamic Faults in SRAM Memories

Luigi Dilillo 1 Patrick Girard 1 Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1 B. Hage-Hassan
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
MEDEA + Design Automation Conference, May 2005, 2005
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00106558
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 16 octobre 2006 - 08:49:47
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00106558, version 1

Collections

Citation

Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, B. Hage-Hassan. Test Solutions for Dynamic Faults in SRAM Memories. MEDEA + Design Automation Conference, May 2005, 2005. 〈lirmm-00106558〉

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