Correlation Between Static and Dynamic Parameters of A-to-D Converters: In the View of a Unique Test Procedure

Florence Azaïs 1 Serge Bernard 1 Yves Bertrand 1 Mariane Comte 1 Michel Renovell 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : Correlation Between Static and Dynamic Parameters of A-to-D Converters: In the View of a Unique Test Procedure
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Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2004, 20 (4), pp.375-387
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 07:43:08
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 avril 2010 - 20:27:19

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Florence Azaïs, Serge Bernard, Yves Bertrand, Mariane Comte, Michel Renovell. Correlation Between Static and Dynamic Parameters of A-to-D Converters: In the View of a Unique Test Procedure. Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2004, 20 (4), pp.375-387. 〈lirmm-00108545〉

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