Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC

Da. Martin Romain Desplats Gérard Haller Florence Azaïs 1 Pascal Nouet 1
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Abstract : Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC
Type de document :
Article dans une revue
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2004, 44 (9/11), pp.1553-1558
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108546
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 07:43:09
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:19
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 avril 2010 - 20:27:29

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  • HAL Id : lirmm-00108546, version 1

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Citation

Da. Martin, Romain Desplats, Gérard Haller, Florence Azaïs, Pascal Nouet. Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2004, 44 (9/11), pp.1553-1558. 〈lirmm-00108546〉

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