Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2004

Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC

Da. Martin
  • Fonction : Auteur
Romain Desplats
  • Fonction : Auteur
Gérard Haller
  • Fonction : Auteur
Florence Azaïs
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Pascal Nouet
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV

Résumé

Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC

Domaines

Autre Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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lirmm-00108546 , version 1 (23-10-2006)

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Citer

Da. Martin, Romain Desplats, Gérard Haller, Florence Azaïs, Pascal Nouet. Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC. Microelectronics Reliability, 2004, 44 (9/11), pp.1553-1558. ⟨10.1016/j.microrel.2004.07.057⟩. ⟨lirmm-00108546⟩

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