Test March pour la Détection des Fautes Dynamiques dans les Décodeurs de Mémoires SRAM

Luigi Dilillo 1 Patrick Girard 1, * Serge Pravossoudovitch 1 Arnaud Virazel 1 Simone Borri 2 Magali Hage-Hassan 2
* Auteur correspondant
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Résumé : Test March pour la Détection des Fautes Dynamiques dans les Décodeurs de Mémoires SRAM
Type de document :
Communication dans un congrès
JNRDM'04 : 7ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2004, Marseille, France. pp.495-497, 2004
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Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 08:52:33
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:24
Document(s) archivé(s) le : mardi 6 avril 2010 - 20:28:25

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  • HAL Id : lirmm-00108644, version 1

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Citation

Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, et al.. Test March pour la Détection des Fautes Dynamiques dans les Décodeurs de Mémoires SRAM. JNRDM'04 : 7ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2004, Marseille, France. pp.495-497, 2004. 〈lirmm-00108644〉

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