The Pros and Cons of Very-Low-Voltage Testing: An Analysis Based on Resistive Bridging Faults

P. Engelke I. Polian Michel Renovell 1 B. Seshadri P. Becker
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
GI/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlassigkeit von Schaltungen und Systemen, Feb 2004, Dresden, Germany. pp.149-153, 2004
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108660
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 08:52:41
Dernière modification le : vendredi 20 juillet 2018 - 12:34:01

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  • HAL Id : lirmm-00108660, version 1

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Citation

P. Engelke, I. Polian, Michel Renovell, B. Seshadri, P. Becker. The Pros and Cons of Very-Low-Voltage Testing: An Analysis Based on Resistive Bridging Faults. GI/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlassigkeit von Schaltungen und Systemen, Feb 2004, Dresden, Germany. pp.149-153, 2004. 〈lirmm-00108660〉

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