Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults - LIRMM - Laboratoire d’Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults

P. Engelke
  • Fonction : Auteur
I. Polian
  • Fonction : Auteur
Michel Renovell
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
P. Becker
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Christine Carvalho De Matos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108661

Soumis le : lundi 23 octobre 2006-08:52:41

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:48

Fichier non déposé

Dates et versions

lirmm-00108661 , version 1 (23-10-2006)

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00108661 , version 1

Citer

P. Engelke, I. Polian, Michel Renovell, P. Becker. Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults. IEEE International Workshop on Current and Defect-Based Testing, May 2004, Napa Valley, CA, pp.89-94. ⟨lirmm-00108661⟩

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