Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults

P. Engelke I. Polian Michel Renovell 1 P. Becker
1 SysMIC - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
LIRMM - Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Type de document :
Communication dans un congrès
IEEE International Workshop on Current and Defect-Based Testing, May 2004, Napa Valley, CA, pp.89-94, 2004
Liste complète des métadonnées

https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108661
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 08:52:41
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:27:18

Identifiants

  • HAL Id : lirmm-00108661, version 1

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Citation

P. Engelke, I. Polian, Michel Renovell, P. Becker. Automatic Test Pattern Generation for Resistive Bridging Faults. IEEE International Workshop on Current and Defect-Based Testing, May 2004, Napa Valley, CA, pp.89-94, 2004. 〈lirmm-00108661〉

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