Defect-Aware SOC Test Scheduling

Type de document :
Communication dans un congrès
VTS'04: 22nd IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2004, Napa Valley, CA (USA), pp.359-364, 2004
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https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00108846
Contributeur : Christine Carvalho de Matos <>
Soumis le : lundi 23 octobre 2006 - 12:56:58
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:59:20

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  • HAL Id : lirmm-00108846, version 1

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E. Larsson, Jean Pouget, Z. Peng. Defect-Aware SOC Test Scheduling. VTS'04: 22nd IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2004, Napa Valley, CA (USA), pp.359-364, 2004. 〈lirmm-00108846〉

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